ORI测试系统由一组CRI离轴反射式平行光管、一组TG目标发生器、一组CGT控制器、一组机械适配器、AEH光学台、MP机械调整台、一组光谱滤波片、一组光衰减器、一组靶标、一组IM电子相机(版本配置适用于不同的光谱带宽),江苏日本大冢LCD-7100光学测试系统、计算机、图像采集卡、TAS-O软件、以及可选的一组参考镜头组成。一组离轴反射式平行光管用于不同口径及焦距光学镜头的精确测试,一组电子相机用于测试工作在不同光谱带宽的镜头。ORI测试系统是一套多功能的测试系统,支持所有类型的工作在紫外到长波红外波段的光学镜头(紫外镜头,可见光镜头,可见光/近红外镜头,短波红外镜头,中波红外镜头以及长波红外镜头)。多功能的实现由设计一系列的模块而实现(相机,一组靶标,目标发生器等),适用于不同光谱范围的镜头测试,江苏日本大冢LCD-7100光学测试系统。通过模块的更换,江苏日本大冢LCD-7100光学测试系统,ORI测试系统可以简单的实现由可见光镜头测试转换为红外镜头的测试。光纤探头与样品在同一个腔体内。江苏日本大冢LCD-7100光学测试系统
对通过光学系统的光束起限制作用的光学元件。它可是光学元件(透镜、反射镜等)本身的边框,也可是另外设置的带孔不透明屏。光阑中心通常在光轴上,且与光轴垂直。 光学系统的各个光学零件都由各自的镜框限定其通光孔,绝大多数情况下是圆孔。有时还在系统中加入固定的或可变的专设光孔。在所有这些光孔中,一定有一个光孔起着限制轴上点成像光束孔径角的作用;另外有一个光孔起着限制成像范围的作用。这样的光孔称为光阑:前者称孔径光阑或有效光阑;后者称视场光阑。任何光学系统必定存在这样二个光阑。苏州显示屏高低温光学测试系统视场角测量比较大可以到80°以上。
该机器设备关键由箱体、制冷机组、加温系统软件、气体呼吸系统及其自动控制系统构成。箱体的机壳为采用冷轧板静电喷
塑,內胆采用***304SUS不锈钢板材,尾门正中间设大规模观察窗,并装有观查灯,使客户能够清楚地见到试件的实验状况。外观总体美观大方。隔热层为硬塑聚氨酯聚氨酯发泡再加小量的超细玻璃棉,具备抗压强度高,隔热保温性有好等特性。
环境标准的可重复性每台环境试验设备将会用以相同种类产品的数次试验,而每台被试的工程项目产品也将会在不一样的环境试验设备中开展试验,为了确保相同台产品在相同试验标准所要求的环境试验标准下个人所得试验結果的可比较性,必定规定环境试验设备所出示的环境标准具备可重复性。
温度突变试验和温度渐变试验当试验箱(室)温度升到或降至规定的温度后,立即将样品放入试验箱进行试验,称为温度突变试验,而将样品先放入温度为室温的试验箱中,然后将箱内温度逐渐升到或降至试验所规定温度的试验,市场角高低温光学测试,称为温度渐变试验。一般来讲,若已知温度突变对试验样品不产生其他有害影响时,大塚高低温光学测试,为节省试验时间,应采用温度突变试验,否则采用温度渐变试验。
环境试验设备所出示自然环境标准的精i确性是由国家计量检定单位根据国家技术性管理机构所制订的检定规程检定合格后出示确保。因此,务必规定环境试验设备能考虑检定规程中的各类性能指标及精度指标值的规定,而且在应用時间上不超出检定周期时间所要求的期限。 标准样品尺寸比较大390mmX310m,视场角测量比较大可以到80°以上。
OLED光学测量系统
产品概要
二维色彩分析仪CA-2500采用可媲美人眼视觉效果的XYZ滤镜及高像素CCD ,能够对智能shou机、平板电脑等各种显示屏的亮度分布、色度分布进行准确、高 分辨率的二维测量。使用的**软件充分兼顾易用性,用户通过极简单的操作,就能在短时间内完成从测量到数据分析、评估的全过程,大幅提高了测量效率,可在开发评估、检测等方面发挥重要作用。
主要用途
统一测量多个中小型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量单个大型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量照明范围内的亮度分布,测量各种发光体的亮度、相关色温分布,测量车用仪表的亮度分布。 光纤探头与样品在同一个腔体内,可实现比较大化视场角测量,温度范围:-40℃~120℃。苏州显示屏高低温光学测试系统
客户客户样品尺寸可定制高低温腔体,比较大可到1米5,温控范围-40℃~120℃。江苏日本大冢LCD-7100光学测试系统
线均交于同一点的光束称为同心光束。入射的同心光束经理想光学系统后,出射光束必定也是同心光束。入射和出射同心光束的交点分别称为物点和像点。理想光学系统具有下述性质:①交于物点的所有光线经光学系统后,出射光线均交于像点。反之亦然。这一对物像可互换的点称为共轭点。②物方的每条直线对应像方的一条直线称共轭线;相对应的面称共轭面。③任何垂直于光轴的平面,其共轭面仍与光轴垂直。④对垂直于光轴的一对共轭平面,横向放大率为常量。研究理想光学系统上述物像两方一一对应关系的理论称为高斯光学。江苏日本大冢LCD-7100光学测试系统
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