TCB系列黑体是差分面源黑体,旨在模拟低温和适宜的常温目标。使用热电元件控制散热器温度。黑体散热器的觉对温度通常从0℃至100℃可调节,但范围可扩展到-40℃至180℃。黑体发射面(从50x50mm到500x500mm),也可以拓展到更大的发射器,高达1000x1000mm的尺寸。
用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体(型号TCB-2oD)。但是,应该注意的是,典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2oD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多,需要更大的功率,升温更慢,更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。 Inframet DT 热成像光电测试系统新高度,基数参数精心调校,夜视效果超乎想象!上海热成像校准系统准不准

TAIM可以对不超过120mm的光学瞄准镜和热夹钳提供扩展的测试和视线。可以使用对从电子输出捕获的图像或从被测设备的显示器捕获的图像进行分析来执行测试。总测试功能:1.蕞小可分辨温差MRTD测量2.图像偏转角度和热像仪夹像旋转测量3.屈光度调节范围、目镜度数和屈光度刻度精度测量4.在电子输出和光学输出(显示器)上测量MTF,NETD,FPN,非均匀性,FOV,失真,放大倍数。注意:噪声参数只在电子输出端测量。选配:1.检查从无限远对焦到短距离对焦是否有图像偏移上海热成像校准系统准不准Inframet DT 热成像光电测试系统智能校准,热成像更精确,基数参数调整,让细节无所遁形!

Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构,平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计(只需较小、较窄的光学平台)。而且,垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时,垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。
Inframet使用三个等级的离轴反射镜面:SR(标准分辨率)-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。HR(高分辨率)-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm(典型λ/10)。UR(超高分辨率)-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。SQ(极高分辨率)-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料,如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率,则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜(或者两个反射镜)的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管,满足您的需求。
IR FPA 传感器(焦平面阵列传感器)指的是对红外光敏感的探测器阵列,这些探测器在位于红外光学镜头焦平面时,能够生成二维电子图像。具体来说,市场上提供的 IR FPA 传感器是通过将红外探测器阵列(即原始 IR FPA 传感器)与读取电子系统结合而成的。
FAPA是一个模块化系统,由一系列模块组成,可以配置为创建一系列不同的子系统,用于测量不同参数组。然而,FAPA的所有模块基本上可以分为三类(块):1.放射性测量工具,2.传感器控制/图像处理工具,3.图像采集/计算工具。 智能校准, INFRAMET SIM 热成像光电测试系统基数参数准确无误,守护每一份安宁!

OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。明策电子热成像校准系统支持自定义校准方案,满足特殊应用场景需求。上海热成像校准系统准不准
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LAFT移动式热像仪测试系统,可以将目标图像直接投射到被测热像仪。热像仪输出对应图像,根据图像即可评价热像仪的性能。推荐在外场条件下使用LAFT,如果在实验室/仓库条件下,此时可以使用长走廊作为测试场所。在适当的测量条件下,LAFT测试系统的测量精度与实验室级DT系列测试系统的测量精度相同。野外和实验室内应用的多功能测量工具可以装在箱子里运输到任何地方可以同时测量几个热像仪(同时投影到几个热像仪上成像)产品参数LAFT-A:MRTD,MDTDLAFT-B:MRTD,MDTD,MTF,NETD,FPN,非均匀性,SiTF,畸变,FOV,部分轮廓靶的探测、识别和辨别上海热成像校准系统准不准
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